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SuperViewW系列3D显微光学轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。
SJ5700DUAL螺纹双向扫描型轮廓测量仪是大量程、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪。它可以全量程大范围连续扫描,拥有长达数百毫米的持续爬坡能力,非常适合大范围陡坡表面测量,大工件无需翻转、倾斜调整,就可实现轻松测量。
SJ5800凹槽凸度曲线轮廓测量仪高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度,具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。
SuperViewW自动精密三维光学轮廓测量仪以白光干涉技术为原理,特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。
SJ5800轮廓形状粗糙度测量仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,一次测量扫描后,在同一个界面显示粗糙度评价结果与轮廓分析结果。
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